把"反射係數"在複數平面的正交座標表示(X、Y軸分別表示反射係數實部與虛部)，透過對阻抗正規化轉換(normalize)，把正規化後的座標合進(疊上去)原複數平面單位圓範圍裡，即形成史密斯圖。

反射係數定義：

一般阻抗定義：

正規化(負載)阻抗定義：z_L=Z_L/Z_O=r_L+jx_L , Z_o一般傳輸線是50

所以

一般(負載)阻抗Z_L=正規化(負載)阻抗z_L * Zo。在史密斯圖上看到的任一點，可以直接讀出其正規化阻抗值，該值乘以傳輸線的特性阻抗，即可換算得到該點的特型阻抗值。

在|G|=1的圓內, 所有x_L=constant所構成的軌跡如下： 上邊是inductive reactance、下邊是capacitive reactance

史密斯圖就是以r_L、x_L的複數平面來表示正規化阻抗值

而最大的r_L圓，就是|G|=1單位圓

常數|G|圓, constant-|G| circle, 也稱為SWR circle (電壓駐波比, 入射波與反射波比), 表示負載與傳輸線之間阻抗不匹配的程度. 對完全阻抗匹配G=0的情況, S=1.

, 一個固定|G|對應一個固定S

大費周章的把阻抗轉成正規阻抗的原因在於，正規阻抗於史密斯圖上觀察有很多有用的特性。

比方說，在同一個常數|G|圓上的每一個點，其傳輸線之間阻抗不匹配的程度(電壓駐波比)是完全相同的。

史密斯圖可以用來觀察天線特性阻抗隨頻率的變化趨勢

SWR vs Freq圖則可以用來觀察隨頻率的變化，天線特性阻抗不匹配的情況

範例一

範例二